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        TDK電容的容量和耗散因數(shù)測試的關(guān)鍵在于儀表設(shè)置

        文章來源:admin 人氣: 684 發(fā)表時間: 04-17

        TDK電容的容量和耗散因數(shù)測試是電路設(shè)計中非常重要的一步。在進(jìn)行精確的測試時,合理的儀表設(shè)置可以極大地影響測試結(jié)果的準(zhǔn)確性。本文河南TDK總代理智成電子小編將介紹TDK電容的容量和耗散因數(shù)測試的關(guān)鍵在于儀表設(shè)置,并探討如何實現(xiàn)精準(zhǔn)的測試。

        正確測量電容値和耗散因數(shù)的關(guān)鍵是儀表設(shè)置(表1)。

        類別類型電容量頻率電壓
        Class I1,000pF and under1MHz ± 10%0.5 ~ 5 Vrms
        Over 1,000pF1kHz ± 10%
        Class II10uF and under1kHz ± 10%1.0 ± 0.2 Vrms
        Over 10uF120Hz ± 20%0.5 ± 0.2 Vrms

        表1:不同電容量范圍和類別類型的頻率和電壓設(shè)置

        電壓設(shè)置對于高容値電容器來說是非常重要的。對于有些電容器儀表,對測試部件的印加電壓不足,因此電容値讀數(shù)偏低。

        頻率設(shè)置也十分重要。由于電容量隨頻率而變化,行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)指定了1MHz、1kHz或120Hz(表1)的測試頻率。

        了解EIA class II電容器的老化現(xiàn)象也很重要。對于class II材料,電容量隨時間推移而減少1。因此,已接受的行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定自上次加熱后1000小時電容量應(yīng)處于偏差范圍內(nèi)(TOLH)2。

        1. 何謂MLCC的老化?
        2. IEC-384-9 (1988), Appendix A

        正確的儀表設(shè)置對于TDK電容的容量和耗散因數(shù)測試來說至關(guān)重要。在選擇和使用測試工具時,我們應(yīng)該注重它們的準(zhǔn)確性、精度和可靠性,以確保測試結(jié)果的準(zhǔn)確性和可信度。而在購買TDK電容時,我們也應(yīng)該選擇可靠的供應(yīng)商,從源頭上保證電容的質(zhì)量和性能。相信在正確的儀表設(shè)置和優(yōu)質(zhì)的電容選擇下,您一定能夠在電路設(shè)計和應(yīng)用中發(fā)揮出TDK電容的最佳性能,為您的工程帶來更多的價值和成就。

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